Scan enable에 관련된 사항은 아래를 읽으면 된다. SoC의 시프트 모드에서 듀얼 SE(Scan Enable) 저전력 플롭을 통한 전력 제한 모든 SoC는 제조상 결함을 감지하기 위해 설계에 스캔 체인을 사용한다. 테스트용으로 설계된 스캔 체인은 칩의 순차적 소자를 연속적인 순서로 연결한다. SoC에 점점 더 많은 기능이 통합됨에 따라, SoC 내의 총 플롭(순차적 소자)과 조합 로직 수도 증가되고 있다. 스캔 시프트 단계 동안에는 모든 플롭과 함께 조합 로직이 완전한 SI(shift-in) 및 SO(shift-out) 단계 동안 토글되고, 피크 전력이 허용 한계를 초과하면 시프트 데이터가 손상될 수 있으며 의사 실패(pseudo fail)로 인해 칩 수율이 영향을 받게 되므로 피크 전력이 중요한..